产品详情
全光谱反射率膜厚量测仪
型号:SR-R&D
全光谱反射率膜厚量测仪

规格(SPECIFICATION):
          Spectral range : 340~1040nm
          Repeatability :± 1% For SiO2 1000A/Si 30     
             times(1σ) at 632.8 nm

应用(APPLICATION):
          SOLAR CELL:AR-Coating
          TFT-LCD:SIOx,SiNx,a-Si:H,N+a-Si             
             Resists,ITO Polyimide…
          LED: SIOx, SiNx,ITO…

脚注信息
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