产品详情
全光谱反射式膜厚测量仪
型号:
型号:SR
另有大型膜厚量测仪,针对Thin-Film Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型
  • 由椭圆仪校正
  • 量测色度坐标
  • 量测时间1-3s ,精确度高
  • 国内自行研发,价格合理
  • 量测膜厚(N.K)值 .量测穿透率(T%).反射率(R%)
  • FFT for very thick layer (up to 50 um)
脚注信息
版权所有 Copyright(C)2009-2016 致东光电科技(上海)有限公司