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半导体测试设备
半导体测试设备

膜厚测试仪

膜厚测试仪
 
产品名称：  膜厚测试仪
详细介绍：

产品特点：


• 针对PI、Thin-Film、Semicon、Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型

• 量测时间1-3s，精确度高
• 测试精度：0.1nm
• 测试厚度范围：1nm-100um
• 量测膜厚（N.K）值 . 穿透率（T%）. 反射率（R%）
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