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半导体测试设备
半导体测试设备

膜厚测试仪

膜厚测试仪
 
产品名称:  膜厚测试仪
详细介绍:

产品特点:


针对PI、Thin-Film、Semicon、Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型

量测时间1-3s,精确度高
测试精度:0.1nm
测试厚度范围:1nm-100um
量测膜厚(N.K)值 . 穿透率(T%). 反射率(R%)