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半导体测试设备
半导体测试设备

粗糙度测试仪

粗糙度测试仪
 
产品名称:  粗糙度测试仪
详细介绍:

产品特点:

针对wafer、玻璃、薄膜、金属等厚度的量测

测量精度:Max.0.15um , Std.0.5um
重复性:Max.0.20um/Std.,1um
测量范围:100um-1400um/10-500um(scan)