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半导体测试设备
半导体测试设备

粗糙度测试仪

粗糙度测试仪
 
产品名称：  粗糙度测试仪
详细介绍：

产品特点：

• 针对wafer、玻璃、薄膜、金属等厚度的量测

• 测量精度：Max.0.15um , Std.0.5um
• 重复性：Max.0.20um/Std.,1um
• 测量范围：100um-1400um/10-500um(scan)
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